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| TESA ETALON TCM200測量顯微鏡 |
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產(chǎn)品詳細描述：
主要特征
模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計, 可根據(jù)需要進行光學(xué)長度測量或表面金相檢驗. 優(yōu)化的照明系統(tǒng), 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統(tǒng), 計算機內(nèi)核的數(shù)據(jù)處理單元, RS232 數(shù)字輸出, 出廠前的檢驗合格證書.
- 三坐標的非接觸測量,無測量力
- 測量分辨率0.5μm
- 最小的允許誤差保證了測量的高精度, 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm
- 寬大的測量空間, 長度方向沒有空間限制
- 放大倍率達1000倍的表面結(jié)構(gòu)檢驗, 光源照明充分
- 視頻攝像系統(tǒng)可進一步進行圖像分析
主機及其配置
| 訂貨號/Order Number |
06839006 |
06839007 |
06839008 |
06839009 |
| 帶雙目鏡的主機 |
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| 35瓦透射冷光源 |
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| 90瓦反射冷光源 |
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| 測量范圍為150X100毫米的工作臺 |
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| 測量范圍為250X150毫米的工作臺 |
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| 可進行Z軸測量 |
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| 數(shù)據(jù)處理單元 |
QUADRA-CHECK 220 |
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| QUADRA-CHECK 230 |
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技術(shù)指標
| 訂貨號 |
06839006 |
06839007 |
06839008 |
06839009 |
| 測量范圍(mm) |
150 X 100 |
250 X 150 |
150 X 100 |
250 X 150 |
| 軸向最大允許誤差 |
(1.8+0.005L) μm, (L in mm) |
(2.5+0.01L) μm (L in mm) |
(1.8+0.005L) μm (L in mm) |
(2.5+0.01L) μm (L in mm) |
| 主機重量 |
110kg |
140kg |
110kg |
140kg |
| 外型尺寸(寬X高X深） |
356 X 662 X 540 |
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公司簡介 
